解決方案
CIS/TOUCH/TOF測(cè)試方案
品中心5_1675758010.jpg)
行業(yè)測(cè)試挑戰(zhàn)
方案概述
CIS測(cè)試解決方案概述
該CIS測(cè)試解決方案,測(cè)試機(jī)單機(jī)頭最高支持512路數(shù)字通道,可擴(kuò)展至2048路,并可通過(guò)配置自制加速模塊實(shí)現(xiàn)圖像測(cè)試的加速賦能,快速滿(mǎn)足日益增長(zhǎng)的高分辨率圖像傳感器芯片測(cè)試需求。該方案主要由Tester、Tester IPC、IMAGE IPC 、高速采集系統(tǒng)、Prober/Handler這幾個(gè)部分組成
Tester IPC
布署CIS Server+ATE Client
CIS Server:負(fù)責(zé)CIS整體業(yè)務(wù)測(cè)試
ATE Client:負(fù)責(zé)DC+Function測(cè)試
CIS Server
使用IPC自帶的HP卡,控制Prober或Handler的動(dòng)作
使用USB或串口,控制光源動(dòng)作
通過(guò)自定義高速通信協(xié)議,控制ATE Client和IMAGE Client的動(dòng)作
IMG Client
使用CIS高速圖像采集測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)圖像數(shù)據(jù)的采集
通過(guò)配置自制加速模塊實(shí)現(xiàn)圖像測(cè)試的加速賦能
解決方案-方案概述CIS1_1683863039.png)
方案介紹
核心優(yōu)勢(shì)
CORE ADVANTAGES
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成功案例
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