解決方案
存儲(chǔ)芯片測試方案
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行業(yè)測試挑戰(zhàn)
方案概述
存儲(chǔ)芯片測試方案概述
針對存儲(chǔ)類芯片測試,加速科技推出針對大中小不同芯片容量的測試方案:ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX應(yīng)對中小容量存儲(chǔ)芯片測試,可分別支持512至1024路數(shù)字通道,對于市場上EEPROM、中小容量Nor Flash及嵌入式存儲(chǔ)器有著良好的支持。適合的DIO通道與電源、高壓源配比,模塊化的資源,使得多site擴(kuò)展簡單易行。高容量向量深度,可滿足中小容量存儲(chǔ)芯片的存儲(chǔ)功能測試。系統(tǒng)、各模塊間高速通信帶寬,算法硬件調(diào)度,可有效提升測試效率。
Flex10K-M系列是針對FLASH/EEPROM/SRAM等存儲(chǔ)類芯片測試研發(fā)的大容量高密度數(shù)字測試系統(tǒng),系統(tǒng)可以提供多達(dá)2560數(shù)字通道,768DPS通道,支持ALPG算法,可以支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片測試。
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方案介紹
核心優(yōu)勢
CORE ADVANTAGES
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成功案例
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